Sopravvivenza implantare e risultati clinici dopo reimpianto in seguito a fallimento implantare: uno studio retrospettivo.

Abstract

Scopo: Il fallimento implantare rappresenta una delle principali complicanze della terapia implantare. Sebbene il reimpianto sia considerato una valida opzione terapeutica, le evidenze sui suoi esiti a medio-lungo termine sono ancora limitate. Scopo dello studio è stato valutare gli esiti del reimpianto dopo fallimento implantare, analizzando perdita ossea marginale peri-implantare (MBL), sopravvivenza a 5 anni e possibile influenza dei fattori demografici, sistemici e implantari sulla MBL.

Materiali e Metodi: Sono stati analizzati retrospettivamente 1100 pazienti sottoposti a terapia implantare. Sessanta pazienti avevano presentato almeno un fallimento implantare. Dopo l’applicazione dei criteri di inclusione ed esclusione, sono stati inclusi 30 impianti reimpiantati con documentazione clinica e radiografica completa al follow-up di 5 anni. La MBL è stata valutata mediante misurazioni radiografiche calibrate mesiali e distali. La sopravvivenza implantare è stata considerata outcome secondario.

Risultati: L’età media era di 57,8 ± 11,1 anni. A 5 anni, la MBL media è risultata pari a 0,18 ± 0,54 mm, indicando un sostanziale mantenimento dei livelli ossei peri-implantari. La sopravvivenza implantare è stata del 93,3%, con 28 impianti sopravvissuti e 2 fallimenti. Nessuna variabile demografica, sistemica o implantare ha mostrato un’associazione statisticamente significativa con la MBL (p > 0,05).

Conclusioni: Entro i limiti dello studio retrospettivo, il reimpianto implantare ha mostrato risultati clinici e radiografici favorevoli, con limitata perdita ossea marginale ed elevata sopravvivenza a 5 anni. I risultati suggeriscono che, dopo identificazione delle cause del fallimento iniziale e adeguata gestione del sito implantare, il reimpianto possa rappresentare una procedura terapeutica affidabile. Ulteriori studi prospettici multicentrici su campioni più ampi saranno necessari per confermare questi dati e approfondire i fattori prognostici a lungo termine.

Aim: Implant failure is one of the main complications of implant therapy. Although implant reimplantation is considered a valid therapeutic option, evidence regarding its medium- and long-term outcomes remains limited. The aim of this retrospective study was to evaluate the clinical and radiographic outcomes of implant reimplantation following implant failure by assessing peri-implant marginal bone loss (MBL), 5-year implant survival, and the potential influence of demographic, systemic, and implant-related factors on MBL.

Materials and Methods: A retrospective analysis was performed on 1,100 patients treated with implant therapy. Sixty patients had experienced at least one implant failure. After applying the inclusion and exclusion criteria, 30 reimplanted implants with complete clinical and radiographic documentation at the 5-year follow-up were included in the final analysis. Peri-implant marginal bone loss was assessed using calibrated radiographic measurements at the mesial and distal aspects of each implant. Implant survival was considered the secondary outcome.

Results: The mean patient age was 57.8 ± 11.1 years. At the 5-year follow-up, mean MBL was 0.18 ± 0.54 mm, indicating substantial preservation of peri-implant bone levels. The implant survival rate was 93.3%, with 28 surviving implants and 2 failures. No statistically significant associations were found between MBL and the demographic, systemic, or implant-related variables analyzed (p > 0.05).

Conclusions: Within the limitations of this retrospective study, implant reimplantation demonstrated favorable clinical and radiographic outcomes, with limited peri-implant marginal bone loss and a high 5-year implant survival rate. These findings suggest that, following careful identification of the causes of the initial implant failure and appropriate management of the implant site, reimplantation may represent a reliable therapeutic option. Further multicenter prospective studies involving larger sample si