Analisi di nanoparticelle e microplastiche mediante tecniche di spettrometria atomica

Abstract

Negli ultimi due decenni, la rapida crescita nella produzione di nanomateriali e plastica e il loro impiego diffuso nei prodotti di uso quotidiano hanno inevitabilmente portato al loro rilascio nell’ambiente. Parallelamente a questa diffusione, è emersa la necessità di monitorare tali contaminanti, sollevando crescenti preoccupazioni sui potenziali danni che possono causare. Lo sviluppo di metodologie analitiche avanzate, capaci di rilevare e caratterizzare accuratamente questi contaminanti, è quindi fondamentale per comprendere meglio il loro destino nell’ambiente e valutare i rischi associati alla loro presenza. In questo contesto, la tecnica consolidata della spettrometria di massa a plasma accoppiato induttivamente (ICP-MS) ha trovato un'applicazione innovativa. Quando utilizzata in modalità a tempo risolto, nota come Single Particle (SP), questa tecnica consente di ottenere sia informazioni qualitative che quantitative.

In the last two decades, the rapid growth in the production of nanomaterials and plastics, along with their widespread use in everyday products, has inevitably led to their release into the environment. Along with this spread, the need to monitor such contaminants has emerged, raising growing concerns about the potential damage they may cause. The development of advanced analytical methodologies capable of accurately detecting and characterizing these contaminants is therefore crucial to better understand their fate in the environment and assess the risks associated with their presence. In this context, the established technique of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) has found an innovative application. When used in time-resolved mode, known as Single Particle (SP), this technique allows for both qualitative and quantitative information.